FEI Tecnai F20 TEM D545
基本信息
型号：Tecnai F20 200kV场发射扫描透射电子显微镜
生产厂家：美国FEI公司
申请服务方式： 预约
收费标准：详见收费标准
服务信息仪器技术参数
1. 灯丝类型：ZrO/W (100) Schottky field emission gun (S-FEG)
2. 物镜类型：Twin
3. 点分辨率：0.27nm
4. 线分辨率：0.144nm
5. 信息分辨极限：0.16nm
6. 加速电压：20kV - 200kV
7. 放大倍数：21× – 700k×
8. 最大样品倾角：±80°
9. 数字相机：
DE-20 direct electron detector (Direct Electron, LP)
Gatan US4000 (895) CCD
Gatan Orius SC200B (830) CCD
10.其它特点：用于STEM模式的环形暗场探头（HAADF）
2. 物镜类型：Twin
3. 点分辨率：0.27nm
4. 线分辨率：0.144nm
5. 信息分辨极限：0.16nm
6. 加速电压：20kV - 200kV
7. 放大倍数：21× – 700k×
8. 最大样品倾角：±80°
9. 数字相机：
DE-20 direct electron detector (Direct Electron, LP)
Gatan US4000 (895) CCD
Gatan Orius SC200B (830) CCD
10.其它特点：用于STEM模式的环形暗场探头（HAADF）
主要功能及特色
Tecnai F20透射电镜是目前使用最普遍的透射电子显微镜之一。其场发射电子枪系统具有高相干性和高亮度，大大提高了电镜的信息分辨极限。用于STEM模式的环形暗场探头HAADF便于较厚样品的STEM tomography操作。F20具有非常好的稳定性、重复性、操作简便性、管理方便性。电子光学系统的高稳定性以及数字化的系统控制软件可满足高水平的自动化操作。该设备非常适合开展单颗粒分析、电子断层成像和电子晶体学等方面的研究。
主要附件与配置
S-FEG, 用于STEM模式的环形暗场探头（HAADF）, DE-20 direct electron detector (Direct Electron, LP), Gatan US4000 (895) CCD